空间数据的获取是进行空间分析的基础与起源。为了提高研究结论的精度,我们亦总是希望能够获取研究区域内更多、更全面的精确空间属性数据信息。然而,在实际研究、工作中,由于人力、成本、资源等外部条件限制,我们不可能对全部未知区域加以采样与测量,而往往只能得到研究区域内有限数量的采样点及其相关属性数据。因此,往往可以考虑选取合适的空间采样点,利用一定数学模型,依据已知采样点各自对应属性数据对研究区域所有位置的未知属性信息加以预测。 空间插值(Spatial Interpolation)即可以实现这一需求。其是一种将离散采样点测量数据转换为连续数据曲面的常用方法,包括内插(Interpolation)和外推(Extrapolation)两种应用形式。一般地,对样本点范围以内(即所有采样点最大外接矩形内部)的空间进行插值,才可称作“内插”(部分文献亦直接用“插值”代替“内插”);反之则称“外推”或“预测”,往往认为外推的结果误差较大。
空间插值理论及其方法基于著名的“地理学第一定律(Tobler's First Law of Geography)”,即一般地,距离越近的地物具有越高的相关性。这一至今已产生深远影响的地学定律最早由美籍瑞士地理学家Waldo R. Tobler教授于1970年提出。
在各方法所对应的数学计算原理层面,空间插值一般可以分为确定性插值方法(Deterministic Interpolation)与地统计插值方法(Geostatistics,亦称非确定性插值方法)两种。其中,确定性插值方法基于研究区域内各信息点之间相似程度或整个曲面的平滑程度,从而创建连续的拟合曲面;其依据插值计算时纳入考虑的采样点分布范围,又可进一步分为整体插值法与局部插值法。地统计插值方法则是基于研究区域内各信息点的综合统计学规律,以变异函数(Variogram)理论与结构分析为基础,实现其属性的空间自相关性定量化,从而创建得出连续插值曲面。
在所创建连续插值表面通过全部采样点的与否层面,空间插值一般又可以分为精确性插值与非精确性插值两种。其中,前者预测样点的属性数值与其各自实测值相等,即其采样点属性数据全部落入预测结果曲面;后者预测样点的属性数值则往往不与其各自实测值相等,即其采样点属性数据一般不会落入预测结果曲面。因此,使用非精确性插值方法往往可以避免在预测表面中出现明显的波峰或波谷,整体呈现出平缓态势。
3 几个重要假设