数字集成电路(Digital Integrated Circuit,简称DIC)中需要设计序列检测电路的部分主要包括以下几个方面:在IC设计的过程中,不同的部分的序列检测器检测的序列和发挥的具体作用不尽心相同。因此在数字集成电路中,需要根据具体的应用场景,针对不同的部分设计相应的序列检测电路。
数据输入端:序列检测电路可以用于检测输入数据是否符合特定的格式要求,或者是否存在错误或干扰。在数字集成电路中,输入数据通常是通过输入端口输入的,因此需要在输入端口处设计序列检测电路。
控制信号:数字集成电路中的控制信号通常是用于控制数字系统的操作序列,以确保系统按照预期的顺序执行操作。在这种情况下,序列检测电路可以用于检测控制信号是否按照预期的序列进行。
数据输出端:序列检测电路还可以用于检测输出数据是否符合特定的格式要求,或者是否存在错误或干扰。在数字集成电路中,输出数据通常是通过输出端口输出的,因此需要在输出端口处设计序列检测电路。
内部信号:数字集成电路中的内部信号通常是在芯片内部传递的信号,例如时钟信号、地址信号、数据信号等。在这种情况下,序列检测电路可以用于检测内部信号是否按照预期的序列进行。
题目:设计一个序列检测器,用来检测序列1001,用_状态机完成电路,可重复检测_序列1001(即本文第三部分的重叠检测)。第一步,分析状态机状态转移,分析如下:
IDLE: 初始状态,代表目前没有接收到满足要求的数据。seq_in = 0时,保持状态。
seq_in = 1时,等于1001中的第一个数,进入S1状态;
S1:代表目前已经有了1个匹配的数据。seq_in = 0时,当前序列为10,等于1001中的前两个数,进入S2状态;
S2:代表目前已经有了2个匹配的数据。seq_in = 1时,当前序列为101,不是1001的前三个数,但1是1001的第一个数,所以进入S1状态。
seq_in = 0时,当前序列为100,等于1001中的前三个数,进入S3状态;
S3:代表目前已经有了3个匹配的数据。seq_in = 0时,当前序列为1000,与要求序列不配,0与初始状态匹配,所以进入IDLE状态。
seq_in = 1时,当前序列为1001,与要求序列匹配,进入S4状态;
S4:最终状态,代表目前已经得到了匹配的序列,输出信号翻转。seq_in = 0时,当前序列为10010,10与要求的前两个数匹配,所以进入S2状态。
seq_in = 1时,当前序列为10011,1与要求序列的第一个数匹配,所以进入S1状态;
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