HiL(Hardware-in-the-Loop)硬件在环是盘算机专业术语,也即是硬件在回路。通过使用 “硬件在环”(HiL) ,可以显著降低开辟时间和成本。在过去,开辟电气机械元件或系统时,使用盘算机仿真和实际的实行就已经相互独立开来。然而通过使用硬件在环的方式,这两个过程可以结合并展示出效率的极大提升。
硬件在环:也即是硬件在回路 (HiL),首先看一下下面三种情况的区别(如果将实际控制器的仿真称为捏造控制器,实际对象的仿真称为捏造对象,可得到控制系统仿真的3种形式:
1)捏造控制器 + 捏造对象=动态仿真系统,是纯粹的软件系统仿真;
2)捏造控制器 + 实际对象=快速控制原型 (RCP) 仿真系统,是系统的一种半实物仿真;
3)实际控制器 + 捏造对象=硬件在回路 (HiL) 仿真系统,是系统的另一种半实物仿真 。
HiL 目前重要有三大硬件平台,包含 NI 平台、Dspace 平台、ETAS 平台(已宣布退出 HiL 业务),下面方案重要以 NI 平台进行先容。下面方案重要先容 VCU HiL 系统方案。
2.HiL 系统方案
HiL 测试系统整体架构如下图所示,重要包含三层内容,第一层次为 HiL 测试系统软硬件架构,重要包罗 HiL 测试系统的硬件装备、实行管理软件、被测控制器等;第二层次为 HiL 测试系统开辟,在第一层次软硬件架构的基础上进行被测对象仿真模型开辟、实时 I/O 接口匹配、硬线信号匹配及实行定义等;第三层次为 HiL 测试,重要指在第一、二层次的基础上进行 HiL 测试,重要包罗测试序列开辟、鼓励生成加载、模型参数调试、故障模拟实现及测试分析与评估等。
1)冒烟测试:测试工程搭建完成后,连接被测控制器,需要对被测控制器和 HiL 测试装备做冒烟测试,验证装备连接与原件是否有根本的问题。冒烟测试有测试人员和开辟人员共同完成,在测试过程中发现问题,测试人员找到了一个 Bug,然后开辟人员会来修复这个 Bug,冒烟测试是否通过决定了下一轮系统测试是否可以实行。 2)接口测试:接口测试是只有被测控制器,没有和整车仿真模型形成闭环的测试,属于开环测试。接口测试通过人为赋值模拟 BMS、MCU 等外部控制器与被测控制器之间的数据交互,验证被测控制器数据交互是否正常,偏重信号交互验证。一般接口测试如果有测试程序,可以自动测试,如果没有测试程序,可手动测试。 3)自动化测试:被测控制器和整车仿真模型形成闭环的测试,属于闭环测试。闭环测试通过模拟操作驾驶室变量,使整车模型与被测控制器自动数据交互,验证被测控制器软件计谋,偏重功能和性能验证。 4)测试陈诉:通过 HiL 测试管理软件加载测试序列,实行测试,输出测试陈诉。 3.5 测试总结
测试完成,在被测功能达到测试通过标准后,需要对 HiL 测试工作进行总结和整理,并生成及编制 HiL 测试总结。HiL 测试总结重要包罗以下内容:HiL 测试情况、测试周期、测试人员及测试内容等、测试过程中的问题统计与分析,并对测试遗留问题进行记录、测试结束后查抄所做的测试工作及完成情况,提交工作成果,包罗:测试用例说明文档,测试矩阵文档,可实行文件及生成的测试陈诉等。