原文作者：aircraft
原文地点：https://www.cnblogs.com/DOMLX/p/18729664
第一 简介
又是好久没更新了，本日先容个半导体/led行业天生晶圆片map图的小demo程序。
在半导体和led中经常必要对下图中的一个个晶圆片上的一个个die（晶圆）天生一个总体的map图，不管是检测中用来表现晶圆片上各个Die的优劣分布，还是用作于点击晶圆移动查看都是有必要的。
像正常在半导体大概LED装备公司中工作过的人基本都有完整的map的表现控件的封装代码，但是如果你是刚跨行过来，大概是自己想研究学习，那么基本就要自己开辟一个MAP控件。比如下图那样的就是
工业公司开辟的MAP控件led软件上表现的效果。
第二 demo布局
工具环境是在VS2015下 c#6.0以下的语法环境 基于c#和winfrom的对话框程序
mainFrom.cs就是个表现作用的窗体
waferDie.cs里只定义了Die类内里存放每个Die的行列坐标和颜色信息以及一些其他信息比如检测优劣等
WaferMapControl.cs就是创建个用户控件类，在上面实现绘制MAP功能，外部只要把晶圆的队列数组传入就可以直接利用
非常简单的三个文件，只要自己创建一下名字相同的三个代码文件，然后复制我下面的代码进去就可以运行利用了。注意：WaferMapControl是个用户控件，可以点添加，选择用户控件，然后改一下名字。
第三 代码
mainFrom界面图：
中间添加了一个panel的控件，属性为填充
mainFrom.cs代码：
[code]using System;using System.Collections.Generic;using System.ComponentModel;using System.Data;using System.Drawing;using System.Linq;using System.Text;using System.Threading.Tasks;using System.Windows.Forms;namespace waferMpingTest1{ public partial class mainFrom : Form { public mainFrom() { InitializeComponent(); InitializeWaferMap(); //GenerateTestData(1000000); // 天生测试数据 GenerateTestData2(10); // 天生测试数据 } WaferMapControl waferMap = new WaferMapControl { Dock = DockStyle.Fill, BorderStyle = BorderStyle.FixedSingle }; private void InitializeWaferMap() { waferMap.DieClicked += (s, e) => MessageBox.Show($"Clicked Die: ({e.Die.Row}, {e.Die.Column})"); panel1.Controls.Add(waferMap); //Controls.Add(waferMap); } private void GenerateTestData(int count) { var random = new Random(); var dies = new List(count); for (int i = 0; i < count; i++) { dies.Add(new WaferDie { Row = random.Next(-100, 100), Column = random.Next(-100, 100), DieColor = Color.FromArgb( random.Next(256), random.Next(256), random.Next(256)) }); } //WaferMapControl map = new WaferMapControl(); waferMap.LoadData(dies); //if (Controls[0] is WaferMapControl map) //map.LoadData(dies); } private void GenerateTestData2(int count) { var random = new Random(); var dies = new List(count); for (int i = -count; i < count; i++) { for(int j = -count;j |
